日本探頭 jp-probe 柔性雙晶垂直探頭

日本探頭 jp-probe 柔性雙晶垂直探頭

日本JP-Probe柔性雙晶垂直探頭：高精度非接觸檢測(cè)的創(chuàng)新解決方案?

日本JP-Probe推出的柔性雙晶垂直探頭，是一款專為復(fù)雜表面檢測(cè)設(shè)計(jì)的高性能超聲波探頭，結(jié)合了雙晶探頭技術(shù)與柔性基底材料，在工業(yè)無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢(shì)。

核心技術(shù)創(chuàng)新?

該探頭采用雙晶結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，發(fā)射與接收晶片獨(dú)立工作，通過交叉聲束路徑有效降低自發(fā)噪聲，信噪比提升40%以上，同時(shí)將檢測(cè)盲區(qū)縮減至1mm以內(nèi)，顯著提高近表面缺陷的檢出率。柔性基底材料的應(yīng)用使其能夠緊密貼合曲面工件，如管道、壓力容器等，確保聲波垂直入射，避免因角度偏差導(dǎo)致的檢測(cè)誤差。

性能參數(shù)與功能?

頻率范圍?：支持0.5-10MHz寬頻段，高頻型號(hào)（如5MHz）適用于晶粒細(xì)小材料的級(jí)檢測(cè)精度，低頻型號(hào)（1-2.25MHz）則用于粗晶粒材料或厚工件檢測(cè)。

檢測(cè)精度?：最小檢測(cè)精度達(dá)5μm，可識(shí)別0.5mm以上的分層缺陷和金屬雜質(zhì)，滿足航空蒙皮、碳纖維復(fù)合材料等高精度檢測(cè)需求。

動(dòng)態(tài)功率調(diào)節(jié)?：電壓10-600V可調(diào)，實(shí)現(xiàn)從微弱信號(hào)捕捉（10V低功耗）到高強(qiáng)度穿透檢測(cè)（600V高壓）的無(wú)縫切換，穿透模式大檢測(cè)深度達(dá)1.5m。

智能功能?：支持一鍵波數(shù)編程（1-300波序列自由組合），適配孔隙檢測(cè)、厚度測(cè)量、分層分析等復(fù)雜需求；云端數(shù)據(jù)管理功能可自動(dòng)同步檢測(cè)報(bào)告，支持AI缺陷比對(duì)與趨勢(shì)預(yù)測(cè)。

應(yīng)用場(chǎng)景與優(yōu)勢(shì)?

該探頭廣泛應(yīng)用于石油天然氣管道環(huán)焊縫裂紋檢測(cè)、核電蒸汽發(fā)生器傳熱管腐蝕監(jiān)測(cè)、電力變壓器繞組金屬疲勞評(píng)估等領(lǐng)域。其柔性設(shè)計(jì)突破了傳統(tǒng)探頭對(duì)曲面工件的檢測(cè)限制，同時(shí)非接觸式空氣耦合技術(shù)避免了水基耦合劑的使用，適用于高溫（高500℃）、低溫及不適合液體耦合的材料檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)了無(wú)損、無(wú)害、自動(dòng)化的在線監(jiān)測(cè)。