日本OTSUKA大塚膜厚線掃描膜厚計®在線型

日本OTSUKA大塚膜厚線掃描膜厚計®在線型

日本OTSUKA大塚的在線型線掃描膜厚計是一款專為工業在線檢測設計的高精度、高效率膜厚測量設備。該產品采用的線掃描技術，能夠實現對整面薄膜的快速、非接觸式測量，廣泛應用于半導體、顯示面板、光學材料及薄膜制造等領域。?核心技術與特點?：?線掃描測量方式?：與傳統的點測量方式不同，該設備采用線掃描技術，能夠一次性測量整條線上的膜厚分布，大大提高了測量效率。?高精度與高再現性?：設備具備高精度、高再現性的測量能力，能夠準確捕捉薄膜厚度的微小變化，確保測量結果的可靠性。?寬幅樣品測量?：該設備可對應寬幅樣品測量，TD方向可測量10m，滿足大尺寸薄膜的測量需求。?非接觸式測量?：采用非接觸式測量方式，避免了對樣品的損傷，同時適用于各種形狀和材質的樣品。?獨立測量頭設計?：設備配備獨立測量頭，支持定制化嵌入客戶系統，滿足在線檢測（inline）需求。?應用場景?：?半導體行業?：用于測量晶圓上的薄膜厚度，如SiO?、SiN等絕緣膜，以及光刻膠的厚度控制。?顯示面板行業?：適用于LCD、TFT、OLED等顯示器的薄膜測量，確保顯示質量。?光學材料行業?：用于測量濾光片、抗反射膜等光學薄膜的厚度和光學常數。?薄膜制造行業?：支持各種薄膜材料的厚度測量，如AR膜、HC膜、PET膜等。?優勢與價值?：該在線型線掃描膜厚計以其高效、精準的測量能力，為工業生產提供了強有力的支持。其非接觸式測量方式保護了樣品，同時寬幅測量能力滿足了大規模生產的需求。此外，設備的獨立測量頭設計使得其能夠靈活集成到各種生產系統中，實現自動化檢測，提高了生產效率。